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NXP Semiconductors
ESD TESTER
PRTR5V0U2F; PRTR5V0U2K
Ultra low capacitance double rail-to-rail ESD protection
4 GHz DIGITAL
R Z
450 ?
RG 223/U
50 ? coax
10 ×
OSCILLOSCOPE
ATTENUATOR
C Z
IEC 61000-4-2 network
C Z = 150 pF; R Z = 330 ?
DUT
Device
Under
Test
50 ?
GND
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
GND
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
clamped +1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
vertical scale = 10 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
GND
GND
vertical scale = 200 V/div
horizontal scale = 50 ns/div
unclamped ? 1 kV ESD voltage waveform
clamped ? 1 kV ESD voltage waveform
(IEC 61000-4-2 network)
Fig 4.
ESD clamping test setup and waveforms
PRTR5V0U2F_PRTR5V0U2K_2
(IEC 61000-4-2 network)
006aab112
? NXP B.V. 2009. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 02 — 19 February 2009
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